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X射線衍射儀

DX系列衍射儀是為材料研究和工業產品分析設計的,是常規分析與特殊目的測量相結合的完善產品。
● 硬件系統和軟件系統的完美結合,滿足不同應用領域學者、科研者的需要
● 高精度的衍射角度測量系統,獲取更準確的測量結果
● 高穩定性的X射線發生器控制系統,得到更穩定的重復測量精度
● 程序化操作、一體化結構設計,操作簡便、儀器外型更美觀
X射線衍射儀是揭示材料晶體結構和化學信息的一種通用性測試儀器:
● 未知樣品中一種和多種物相鑒定
● 混合樣品中已知相定量分析
● 晶體結構解析
● 非常規條件下晶體結構變化(高溫、低溫條件下)
● 材料表面膜分析
● 金屬材料織構、應力分析

    X射線衍射儀可以分析天然或是人工合成的無機或是有機材料,廣泛應用于粘土礦物、水泥建材、環境粉塵、化工制品、藥品、石棉、巖礦、聚合物等研究領域。
● 基于θ-θ幾何光學設計,便于樣品的制備和各種附件的安裝
● 金屬陶瓷X射線管的應用,極大提高衍射儀運行功率
● 封閉正比計數器,耐用免維護
● 硅漂移探測器具有優越的角度分辨率和能量分辨率,測量速度提高3倍以上
● 豐富的衍射儀附件,滿足不同分析目的需要
● 模塊化設計或稱即插即用組件,操作人員不需要校正光學系統,就能正確使用衍射儀相應附件

數據測量功能
● θs-θd常規對稱測量
● 定性、定量分析
● 樣品晶體結構分析
● 晶體結晶化評價
● 晶格尺寸、晶格應力評價

θs-θd不對稱測量(掠射測量)
● 薄膜/粉末樣品的定性分析和結構分析
● 晶格常數的精確分析
● 殘余應力/取向評價
● 薄膜/密度測量

0mg搖擺測量
    樣品結晶狀態的精確評價

    不同的測量功能都是為了研究材料結構而設計的,每種測量方式而得到的數據,都有滿足分析要求的相應數據處理軟件。

光學系統轉換
    不需要拆卸索拉狹縫體,就可以單獨更換索拉狹縫結構。由于這一特點,不需要重新調整儀器,就可以實現聚焦光學系統和平行光學系統的轉換。

    早前聚焦法光學系統和平行光束法光學系統分別需要配置彎曲晶體單色器和平面晶體單色器,光學系統的轉換需要對光學系統重新校正。采用本系統只要將單色器的晶體旋轉90°、更換狹縫結構,就可以實現光學系統的轉換。

數據處理軟件包括以下功能
    基本數據處理功能(尋峰、平滑、背景扣除、峰形擬合、峰形放大、譜圖對比、Kα1、α2剝離、衍射線條指標化等);
● 無標準樣品快速定量分析
● 晶粒尺寸測量
● 晶體結構分析(晶胞參數測量和精修)

 


  

● 宏觀應力測量和微觀應力計算;
● 多重繪圖的二維和三維顯示;
● 衍射峰圖群聚分析;
● 衍射數據半峰寬校正曲線;
● 衍射數據角度偏差校正曲線;
● 基于Rietveld常規定量分析;
● 使用ICDD數據庫或是用戶數據庫進行物相定性分析;
● 使用ICDD數據庫或是ICSD數據庫進行定量分析;

DX系列衍射儀除了基本功能外,可快速配置各種附件,具有超強的分析能力
    高精度的機械加工,使附件安裝位置的重現性極大地提高,實現即插即用。不需要對光路進行校準,只要在軟件中選定相應的附件就可以實現特殊目的測量。

多功能樣品架
    隨著材料研究的深入,越來越多的板材、塊狀材料及基體上的膜也要求用X射線衍射儀進行性能分析。在測角儀上安裝多功能樣品架可以進行織構、宏觀應力、薄膜面內結構等測試,每一種測試功能都有相應的計算軟件。
● 碾軋板(鋁、鐵、銅板等)織構測量及評價
● 金屬、陶瓷等材料殘余應力測量
● 薄膜樣品晶體優先方位的評價
● 大分子化合物取向測量
● 金屬、非金屬基體上的多層膜、氧化膜、氮化膜分析

  


    織構使材料呈現各向異性,利用織構改善和提高材料的性能、充分發揮材料性能的潛力,是材料科學研究的重要工作之一。雖然檢測材料織構方法很多,但是最廣泛應用的還是X射線衍射技術。
    多功能樣品架用于織構樣品測量,軟件計算后分別繪制出極圖、反極圖、ODF圖。

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